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极区舌状电离结构在磁层-电离层-热层耦合系统中的演化
ID：109
View Protection：ATTENDEE
Updated Time：2021-06-14 09:14:22
Hits：2477
Oral Presentation
Start Time：2021-07-11 09:21（Asia/Shanghai）
Duration：12min
Session：S9B 9B、行星科学与空间物理 »
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Abstract
磁暴期间，在极区对流电场作用下，中纬度地区日侧的高密度等离子体被进一步输运到极盖区，从而产生电离层舌状等离子体（Tongue of Ionization, TOI）结构，该结构对极区磁层-电离层-热层耦合系统的研究和空间天气应用都有非常重要的意义。虽然TOI结构已经被广泛报道，但受观测覆盖范围、模拟精度及极区电场模型等因素的限制，TOI结构的精细演化过程及其对热层的影响却很少被研究。本报告将利用高精度（0.625º×0.625º）磁层-电离层-热层耦合模式（CMIT）研究磁暴期间极区电离层，特别是TOI结构的精细演化特征。同时首次分析TOI结构对热层的潜在影响，探究磁暴期间TOI结构在极区磁层-电离层-热层耦合过程中的作用和规律。
Keywords
舌状电离结构,磁层-电离层-热层耦合
Speaker
党童
中国科学技术大学Submission Author
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Important Date
-
Conference Date
Jul 09
2021
toJul 11
2021
-
May 30 2021
Abstract Submission Deadline
-
May 30 2021
Draft paper submission deadline
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May 30 2021
Early Bird Registration
-
Jul 10 2021
Registration deadline
-
Jul 11 2021
Contribution Submission Deadline
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贵州大学
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