一种适用于多种激励信号的高精度直方图测试方法
ID:86 View Protection:ATTENDEE Updated Time:2021-12-09 12:48:59 Hits:639 Oral Presentation

Start Time:2021-12-12 09:15(Asia/Shanghai)

Duration:15min

Session:S2 论文报告会场2 » S2.2Session 2 集成电路测试

Presentation File

Tips: Only the registered participant can access the file. Please sign in first.

Abstract
本文提出了一种适用于多种激励信号的高精度直方图测试方法,用于估计模数转换器(ADC)的线性度.该方法采用任意程度非线性的信号作为激励信号,只需该信号具有已知的函数形式,且折叠后保持单调.该方法的另一优势是它能消除非线性信号的非均匀分布效应,克服因归一化运算导致的估计误差.本文方法利用折叠区间内采样点与采样时间一一对应的关系,精确估计 ADC 的转换电平、积分非线性(INL)和微分非线性(DNL),避免了与归一化运算相关的误差.理论分析和仿真结果表明,该方法可采用包括斜波信号、正弦信号、指数信号在内的多种类型的信号进行线性度测试,并获得准确的测试结果.由于新方法提供了选择输入信号的灵活性,避免了与归一化相关的误差,不仅使片外 ADC 线性度测试变得便利,还为低成本的片上 ADC线性度测试提供潜在的解决方案.
Keywords
集成电路测试;模数转换器;线性度测试;码密度直方图方法;积分非线性;微分非线性
Speaker
班诚
西安交通大学

Submission Author
伍民顺 西安交通大学;陕西科技大学;西北核技术研究所
Submit Comment
Verify Code Change Another
All Comments
Important Date
  • Conference Date

    Dec 11

    2021

    to

    Dec 12

    2021

  • Aug 18 2021

    Registration deadline

Sponsored By
中国计算机学会
Organized By
中国计算机学会容错计算专业委员会
同济大学软件学院
Previous Conferences