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Introduction
本次学术会议将为国内外从事光电技术研究的专家学者提供一次研讨光电子成像，光电子探测，图像处理，光电系统设计、制造与检测，相关技术与应用等领域的研究进展的机会，促进学术技术交流和相互合作。
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Important date

2007-04-15
Abstract submission deadline

Submission Topics

征文时间 英文摘要的截稿日期：2007年4月15日。  征文内容 1. 光电子成像： 像管(像增强器与高速摄影变像管)；光子计数器件与系统； 摄像器件与系统；电子光学，微通道板、光阴极、荧光屏；微光成像系统。 2. 光电子探测： 光电探测器材料； 光电探测器；非致冷探测器；探测器性能检测与评价；红外成像与探测系统。 3. 图像处理： 像质评价与改善；模式识别，图像融合与超分辨力；多维图像处理技术；三维图像获取与处理。 4. 光电系统设计、制造与检测：新型光学系
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Important Date

  • Conference Date

    Sep 09

    2007

    to

    Sep 12

    2007

  • Apr 15 2007

    Abstract Submission Deadline

  • Sep 12 2007

    Registration deadline

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中国宇航学会
日本滨松光子学株式会社
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北京市光学学会
中国航天科工集团公司三院8358研究所
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